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SVM-212数码立体显微镜
功能
 

SVM-212数码立体显微镜集成了传统目视与数码影像功能。高达50X-320X的电子放大倍率和15X-90X的光学放大倍率,大景深,成像质量优异。选配专业开发的高级图像测量分析软件,能快速精确捕捉各种图像,并具有图像测量、分析及打印等功能。

产品广泛应用于科研、教育、电子、电器、电机、机械、钢铁、材料、纺织、开发试制、生产、检测、检验、产品维修、质量管理、商业、公安、消防、地质、考古、医疗、医药、美容、生物、化学、物理、食品等领域。

 
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特点
SONY高清晰度CCD;
超大工作平台;
超高工作距离;
背光、底光双光源;
Video视频输出,选配测量软件实现测量功能。
 
应用


在电子行业中可广泛应用于科研设计、生产制造、品质检验管理、可靠性失效分析。可对PCB金属化工艺、锡铅合金工艺、SMT表面贴装焊接工艺进行质量检查,可对集成电路芯片观察分析、基片缺损、失效原因及电子元器件的可靠性失效分析及在整机检验测试中可对多余物检查分析。当产品出现质量问题时对有基板、焊接、零部件质量检查分析。能很方便得出正确报告,提高产品合格率。

在机械行业可对精密零部件的加工,装配质量和几何图形检测分析。对金属零部件缺损毛刺、磨损、断裂、疲劳、裂纹、断口、机械构构和金属表面喷镀不均匀度脱落、多余物、装配可靠性观察分析。

在轻纺行业中可对原材料、织物、性能结构加工进行观察分析,提高产品合格率。

在刑事侦察中可对毛发、指纹、弹头、遗留物帮助进行分析提供破案参考。

在文物考古行业中可对纺织纤维、陶瓷、珍珠、釉层、化石、古币、铜器等古代物品进行观察分析。

 

规格参数
型号: SVM-212数码立体显微镜
成像器件: 目视系统 1/3" CCD Sony
放大倍率: 15x-90x连续变倍 50x-320x连续变倍
最大倍率对应精度: 2微米 2微米
最大倍率对应解析度: 0.5微米 0.5微米
最大视场范围(mm): 20x20 6.5x4.9
显式方式: 目视 监视器、电脑、电视、LCD
照明方式: 上下光源系统
 
可观察、测量工件示范
 
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LED内部结构观测
 
贴片电容(130x)观测
 
精密端子(130x)观测
 
PCB板(80x)观测
 
 
 
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